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基于DIC的VDA紧弯试验新研究

2021年4月29日

EWI成形中心自2021年冬季引入新的VDA数字图像相关(DIC)紧半径测试能力以来,已经对各种高强度材料的测试应用进行了进一步的研究。

最近的一项研究评价了测试关闭标准,并将结果应用于有限元分析(FEA)。应用工程师Tom Feister在一篇论文中介绍了这项工作,VDA紧密半径弯曲试验的应用你可在本页填写表格,免费阅览有关文件。

如果您对EWI成型中心的这方面或其他测试能力感兴趣,请联系Hyunok Kimhkim@www.gmacjapan.com

请填妥此表格下载有关文件:

这种能力的最初表现,基于数字图像相关的VDA紧弯曲半径测试,可以通过点击这里

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